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用于檢查硅片的表面光潔度-日本horiba高光澤度檢查儀IG-410

發(fā)布時間:2021-01-15 點擊量:1778

用于檢查硅片的表面光潔度-日本horiba高光澤度檢查儀IG-410

 

總覽

高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方便使用的類型,可方便地進行現(xiàn)場工作,并且只需將與顯示單元分開的測量單元應用于被攝體即可進行測量。使用近紅外線作為光源,并測量了1000的光澤度(鏡面反射率100%)。

無需預熱。對于需要高表面光澤度的產(chǎn)品(例如用于汽車前燈的照明反光器,用于復印機的反光器和硅片)的質(zhì)量控制而言,它是理想的選擇。

特征

  • 甚至在金屬等高光澤區(qū)域
    也可以量化“模糊度” IG-410可以測量金屬等高光澤區(qū)域,是光澤度檢查儀IG系列的新產(chǎn)品。測量范圍是0到100,是傳統(tǒng)型號的10倍。也可以測量鏡面樣品。
  • 緊湊輕巧的設(shè)計,易于現(xiàn)場測量
    重量僅為350g,易于攜帶。由于是一鍵式操作,因此可以將其帶到生產(chǎn)現(xiàn)場以方便測量。
    由于將LED用作光源,因此無需擔心光源的壽命。
  • 可以通過
    在2個范圍之間切換來測量低光澤度,可以在0到100和0到100的2個范圍之間切換。每個范圍都帶有自己的校準板。
    IG-410不僅可以測量高光澤度金屬,還可以測量低光澤度區(qū)域,例如涂在金屬板上的樣品。

應用實例

  • 用于檢查金屬產(chǎn)品表面狀況的光潔度
  • 用于檢查軋制鋁板和不銹鋼板的外觀
  • 用于檢查電鍍產(chǎn)品的外觀
  • 用于檢查硅片的表面光潔度

*由于光澤度是通過光的反射來測量的,因此測量點必須平坦。

規(guī)范

光學系統(tǒng)

入射角60°-接收角60°

測量面積

3 x 6毫米橢圓

光源

LED(波長890nm

受光部

SPD(硅光電二極管)

測量范圍
(顯示分辨率)

100范圍:
0.0010.0(顯示分辨率0.11000范圍:0100(顯示分辨率1

重復性

滿量程的±1

電源供應

AA干電池x 4

電池壽命

200小時以上(使用堿性干電池)

工作溫度極限

10-40℃

尺寸

機身:75W x 34D x 140H mm
傳感器:30W x 45D x 88H mm

大眾

350g(帶內(nèi)置電池)

其他功能

自動校準,自動關(guān)機
范圍切換顯示(100/1000)超范圍
顯示,電池電量顯示
測量值保持
校準值設(shè)置

配件

用于1001000量程的校準標準板