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單粒細(xì)顆粒破碎力檢測(cè)技術(shù)

發(fā)布時(shí)間:2021-07-07 點(diǎn)擊量:914

單粒細(xì)顆粒破碎力檢測(cè)技術(shù)

NS-A系列細(xì)顆粒破碎力測(cè)量?jī)x是一種通過(guò)壓頭對(duì)細(xì)顆粒和顆粒加壓,可以直接測(cè)量破碎時(shí)非常微弱的力的設(shè)備。可測(cè)量的負(fù)載為 10nN。通過(guò)更換檢測(cè)傳感器,可以測(cè)量高達(dá) 9 位至 10N 的各種微小力。在顆粒硬度(強(qiáng)度)和顆粒硬度(強(qiáng)度)的測(cè)量中,我們實(shí)現(xiàn)了易用性和測(cè)量精度。

- 可以測(cè)量用戶的任何顆粒的破碎力(強(qiáng)度)。
-通過(guò)更換傳感器,可以測(cè)量從 10nN 到 10N 的寬范圍。
? 可測(cè)量最大 3 μm 的顆粒。
- 溫控臺(tái)(可選)可控制臺(tái)溫高達(dá)150°C。
-高性能隔振臺(tái)(選件)可實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量,并*抑制測(cè)量噪音。

 

適用于以下評(píng)價(jià)

?顆粒粉碎特性的測(cè)量
?調(diào)色劑溫度依賴性顆粒強(qiáng)度變化的測(cè)量
?原材料粉末的質(zhì)量控制?原材料選擇評(píng)估
?電池材料強(qiáng)度測(cè)量
?顆粒涂膜評(píng)估

? 一種墨粉顆粒強(qiáng)度的測(cè)量

? 薄膜強(qiáng)度的測(cè)定

NS-A系列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格

待測(cè)樣品

3 微米至 1 毫米 

可測(cè)量負(fù)載范圍

10nN ~ 10N 最小分辨率 2nN

測(cè)量壓縮速度

100 納米/秒至 50 微米/秒

圖像捕捉

3CCD攝錄一體機(jī)

溫控臺(tái)

常溫~150℃

高性能隔振臺(tái)

垂直 0.5Hz(可選)

尺寸/重量 

身體

450W x 500H x 450D (20kg)

控制器

320W x 250H x 350D (10kg)

電源供應(yīng)

AC100V 3A