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灰塵探測(cè)器L3SQ的特點(diǎn)

發(fā)布時(shí)間:2023-05-08 點(diǎn)擊量:585

 灰塵探測(cè)器L3SQ的特點(diǎn)

檢查附著在平面上的異物非常容易,當(dāng)與明場(chǎng)照明(適用于產(chǎn)品顏色、形狀、缺陷等)結(jié)合使用時(shí),以及作為暗場(chǎng)照明的光源(適用于檢查微小灰塵等沉積物)時(shí),可以獲得很高的結(jié)果。 如果您使用可以在可選角度自由移動(dòng)的[扶手支架],則可以在不固定的情況下以易于看到的角度工作。

粉塵探測(cè)器L3SQ適合檢查小板形工件和高光滑工件以及檢查異物。 帶有一些伯爵的成型產(chǎn)品也可以。但是,如果身體的形狀很復(fù)雜,暗場(chǎng)照明的好處就會(huì)喪失。
智能手機(jī)和平板電腦終端的觸摸屏組裝、液晶組裝檢查、液晶面板和板形玻璃(作為材料)的檢查、醫(yī)療器械部件的檢查確認(rèn)、切割膜上的異物確認(rèn)、工作臺(tái)上的異物檢查、主軸上涂漆的樹(shù)脂成型品的異物檢查、層壓薄膜前的異物檢查、 諸如清潔粗顆粒計(jì)數(shù)器RACCAR的硅晶圓等應(yīng)用是經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的應(yīng)用。    
此外,它可以有效地用于印刷材料的檢查,例如印刷前的不干膠,光滑度高的金屬板(不銹鋼,鐵,鋁,銅等),培養(yǎng)皿等,以及異物附著力檢查。 除了環(huán)形燈外,還有很多人被熒光燈和其他燈檢查過(guò),但是如果您被纖維廢料等微小異物所困擾,您應(yīng)該能夠通過(guò)使用灰塵探測(cè)器L3SQ進(jìn)行檢查來(lái)大大提高效率。

從側(cè)面照射是有效的!

當(dāng)薄膜、玻璃、成型品等的工件形狀為平版印刷時(shí),可以通過(guò)從側(cè)面照射灰塵探測(cè)器L3SQ輕松進(jìn)行粘附灰塵檢查。 這是因?yàn)榛覊m探測(cè)器L3SQ是一種旨在通過(guò)從側(cè)面較低角度發(fā)射光線的“暗場(chǎng)照明"來(lái)提高觀看效果的設(shè)備。 工件略微凹凸不平,即處于上面有微小灰塵的狀態(tài),但您可以觀察它而不會(huì)錯(cuò)過(guò)它。 這取決于工件表面的狀況,但如果條件良好,則可以目視檢測(cè)到約10μm的灰塵。

另一方面,通過(guò)從正上方照射光線進(jìn)行檢查時(shí)的照明稱為“明場(chǎng)照明"。 這種方法看起來(lái)像是從上方觀察工件,因此很容易檢測(cè)形狀,整體顏色陰影,臟污等的差異,但是由于難以區(qū)分表面上的不規(guī)則性,因此不適合發(fā)現(xiàn)灰塵。 因此,如果要減少粉塵缺陷,不僅要考慮明場(chǎng)照明下的檢查,還要考慮使用灰塵探測(cè)器L3SQ進(jìn)行暗場(chǎng)照明的檢查。

此外,灰塵探測(cè)器L3SQ設(shè)計(jì)用于從上方觀察,同時(shí)照亮側(cè)面。 首先,由于向上泄漏或從工作表面反射的光線較少,因此減輕了操作員眼睛的負(fù)擔(dān),并且可以高效地工作。
接下來(lái),條形形狀允許安裝適合側(cè)面照射。

 特點(diǎn)


■與傳統(tǒng)產(chǎn)品相比,發(fā)光部分的長(zhǎng)度是其長(zhǎng)度的2倍,亮度提高了約2.5倍,因此可以用于較大的工件。image.png
■由于灰塵探測(cè)器L3SQ使用暗場(chǎng)照明方法,因此可以很好地捕獲輕微的不規(guī)則和表面。
有關(guān)暗場(chǎng)照明方法的詳細(xì)信息,請(qǐng)參閱暗
image.png場(chǎng)照明部分。  

■如果滿足條件,則可以輕松找到最小尺寸約為10μm的污垢和灰塵。 * 當(dāng)目標(biāo)是平坦的表面時(shí)。
■現(xiàn)在可以安裝一個(gè)特殊的綠色濾光片,幾乎不會(huì)降低照度,使其更容易看到。
■準(zhǔn)備了一個(gè)特殊的支架(高度可調(diào))用于固定。
■照明部分輕巧緊湊,易于操作。 主體上有螺紋孔,也可以連接到設(shè)備或工作臺(tái)上。
■由于使用了LED,因此使用壽命長(zhǎng)并節(jié)省能源。