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高溫環(huán)境下檢測用表面壓力分布測試薄膜的特點

發(fā)布時間：2024-10-11　點擊量：249

高溫環(huán)境下檢測用表面壓力分布測試薄膜的特點

高溫環(huán)境下的壓力分布和壓力/表面壓力測量薄膜 Prescale for high heat

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可在高溫環(huán)境下使用的壓力測量薄膜。可以在產生熱量的環(huán)境下測量壓力機表面的壓力值、壓力分布、平衡和負載值！

高溫標尺是一種壓力測量薄膜，標尺。
與普通的預刻度相比，由于熱而導致的顯色和基底變形得到抑制。這使得在加熱條件下測量壓力成為可能。image.png

使用優(yōu)點

對于正常預分頻

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*這是一張圖片。

用于高溫預分頻

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*這是一張圖片。

  • 與普通產品相比，可以最大限度地減少因熱而產生的發(fā)色和基材變形。

  • 可以在仍然加熱的環(huán)境中進行測量，從而可以在與制造條件非常相似的環(huán)境中高精度地測量壓力。

  • 它可以縮短制造設備冷卻和加熱所需的時間，有助于提高生產率。