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臺(tái)式膜厚測量系統(tǒng)

臺(tái)式膜厚測量系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào)： F3-CS

所屬分類：測厚儀

產(chǎn)品時(shí)間：2024-09-10

簡要描述：日本filmetrics臺(tái)式膜厚測量系統(tǒng)F3-CS
F3-CS是測量小樣品的最佳測量系統(tǒng)。與測量臺(tái)集成的測量系統(tǒng)使其易于攜帶。
只需將樣品的測量面朝下放置在載物臺(tái)上即可進(jìn)行測量，約1秒即可測量出膜厚和折射率。

詳細(xì)說明：

日本filmetrics臺(tái)式膜厚測量系統(tǒng)F3-CS

F3-CS是測量小樣品的最佳測量系統(tǒng)。與測量臺(tái)集成的測量系統(tǒng)使其易于攜帶。
只需將樣品的測量面朝下放置在載物臺(tái)上即可進(jìn)行測量，約1秒即可測量出膜厚和折射率。

主要特點(diǎn)

  • 緊湊的尺寸

  • 輕松連接，僅 USB 連接

  • 光學(xué)常數(shù)分析（折射率/消光系數(shù)）

主要應(yīng)用

光學(xué)鍍膜硬涂層、防滴膜、聚對二甲苯等
平板有機(jī)膜等


日本filmetrics臺(tái)式膜厚測量系統(tǒng)F3-CS

產(chǎn)品陣容

模型F3-CS-UVF3-CSF3-CS-近紅外
測量波長范圍190 – 1100nm380 – 1050nm950 – 1700nm

膜厚測量范圍

3nm – 40μm15nm – 70μm100nm – 250μm
準(zhǔn)確性*± 0.2% 薄膜厚度± 0.4% 薄膜厚度
1納米2納米3納米

*取決于樣品和測量條件





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